Skaningowa mikroskopia elektronowa: elementy podstaw teoretycznych i przykłady wykorzystania w badaniach materiałowych

Wykład ma na celu zapoznanie Słuchaczy z możliwościami, jakie stwarza wykorzystanie skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) i technik pokrewnych w dziedzinie badań materiałowych. W tym celu omówione zostaną pokrótce podstawy teoretyczne obrazowania SEM, tj. generacja sygnałów rejestrowanych podczas obrazowania w wyniku oddziaływań elektronów z materią, elementy optyki elektronowej i zasady tworzenia obrazu w skaningowym mikroskopie elektronowym oraz wpływ parametrów wiązki elektronów (prąd, napięcie przyspieszające, odległość pracy) na charakter uzyskiwanego obrazu. Rozważania teoretyczne zostaną poparte szeregiem przykładów aplikacji technik SEM, oraz EDS (Energy-Dispersive X-Ray Spectrometry), EBSD (Electron Backscatter Diffraction), CL (Cathodoluminescence) i FIB (Focused Ion Beam) uzyskanych podczas badań próbek różnych materiałów.